一、葉面積指數(shù)測量儀介紹

葉面積指數(shù)測量儀是用于各種高度植物冠層研究的儀器，可以無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等參數(shù)。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。

二、葉面積指數(shù)測量儀作用

1、無損測量：快速無損傷獲取植物冠層圖像，不影響植物生長。

2、魚眼鏡頭可自動保持水平狀態(tài)：安裝在手持式萬向平衡接頭上的魚眼攝像鏡頭可自動保持鏡頭處于水平狀態(tài)，無需三角架。

3、快速分層測量：魚眼鏡頭可水平向前或垂直向上伸入到冠層不同高度處，快速進行分層測量，測出群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。

4、可屏蔽不合理冠層部分：對不同方向的冠層進行區(qū)域性分析時，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件。通過手動調(diào)節(jié)闖值，可以更精準的測量葉面積指數(shù)等參數(shù)。

三、葉面積指數(shù)測量儀原理

葉面積指數(shù)測量儀是采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理，依據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律。在葉面積指數(shù)定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。